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衍射极限波面双剪切干涉测试技术的原理、应用与优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在光学领域，衍射极限波面具有至关重要的地位。光学系统的性能在很大程度上依赖于对衍射极限波面的精确控制和测量。例如，在高分辨率成像系统中，如天文望远镜、高端显微镜等，衍射极限波面决定了系统能够分辨的最小细节，直接影响成像的清晰度和准确性。在光刻技术中，为了实现更高的芯片集成度，需要更精确地控制光束的波面，使其接近衍射极限，以确保光刻图案的精度。在激光通信、激光加工等领域，衍射极限波面的质量也直接关系到能量的传输效率和加工精度。

双剪切干涉测试技术作为一种高精度的光学测量方法，为衍射极限波面的测量提供了有效的