利用宏观角分辨光谱技术研究金属-半导体多层膜的光学响应.docxVIP

摘要三号黑体加粗

三号黑体加粗

研究金属-半导体多层膜的光学响应，用宏观角分辨光谱技术（Angle-ResolvedSpectroscopy，ARS）对其进行系统的表征与分析。金属-半导体多层膜的特殊的光学性能和广泛的应用前景，在光电器件、传感器和薄膜光学器件中的作用，是现在材料科学或者光学的研究重点。不同金属与半导体材料的组合及其厚度、界面效应的因素，会对多层膜的光学性质产生很大的影响。

论文写了金属-半导体多层膜的研究现状，宏观角分辨光谱技术的基本原理、实验所用到的设备以及实验步骤。宏观角分辨光谱技术是改变入射角度和测量不同角度下的反射光谱，提供更为精确的材料光学特性信息。论文用实验手