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基于多水平方法的无向图剖分在VLSI设计中的深度研究与应用

一、绪论

1.1研究背景

随着科技的飞速发展，超大规模集成电路（VLSI）设计在现代电子系统中扮演着愈发关键的角色。从智能手机、平板电脑等消费电子产品，到高性能计算机、通信基站等大型设备，VLSI技术的应用无处不在。在过去几十年里，VLSI设计取得了显著的进步，特征尺寸不断缩小，集成度持续提高，这使得芯片的性能、功能和功耗等方面都得到了极大的改善。例如，摩尔定律指出，集成电路上可容纳的晶体管数目，约每隔18个月便会增加一倍，性能也将提升一倍。这一规律推动着VLSI技术不断向前发展，为各种电子设备的小型化、高性能化提供了