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- 2026-02-25 发布于重庆
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[19]中华人民共和国国家知识产权局
[12]发明专利申请公布说明书
[21]申请号200710037775.6
[51]Int.Cl.
H01L27/12(2006.01)
H01L23/367(2006.01)
HO1L21/84(2006.01)
[43]公开日2007年8月15日[11]公开号CN101017834A
[22]申请日2007.3.2
[21]申请号200710037775.6
[71]申请人上海集成电路研发中心有限公司地址201203上海市张江碧波路177号4楼B
区
[72]发明人张晨骋
[74]专利代理机构上海智信专利代理有限公司代理人王洁
权利要求书3页说明书7页附图2页
[54]发明名称
一种SOI集成电路结构及其制作方法
[57]摘要
1423本发明提供一种SOI集成电路结构,具有自上而下依次为单晶硅层、绝缘材料埋层以及衬底体硅材料的SOI结构,在单晶硅层具有浅沟槽隔离结构,所述的浅沟槽侧壁设有绝缘导热材料,该绝缘导热材料贯穿绝缘材料埋层与衬底体硅材料相接触。该结构可以形成一个上下硅层之间的热通道,便于器件产生的热量转移到衬底体硅材料上,有助
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200710037775.6
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