薄膜电路溅射技师考试试卷及答案.docVIP

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  • 2026-02-28 发布于山东
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薄膜电路溅射技师考试试卷及答案

填空题(10题,每题1分)

1.薄膜溅射常用的惰性气体是______。

2.磁控溅射利用______约束电子提高电离效率。

3.溅射前基础真空度通常在______Pa以下(数量级)。

4.直流溅射适用于______靶材(导电/绝缘)。

5.薄膜厚度常用检测方法是______(如台阶仪)。

6.溅射后常进行______处理降低应力。

7.正胶曝光区域______于显影液(可溶/不可溶)。

8.附着力常用测试方法是______法。

9.真空系统由机械泵和______泵组成。

10.影响沉积速率的因素包括靶功率、______和靶基距。

答案:1.氩气;2.磁场;3.1e-3;4.导电;5.台阶仪;6.退火;7.可溶;8.划格;9.分子;10.工作气压

单项选择题(10题,每题2分)

1.沉积速率最高的溅射类型是?

A.直流溅射B.射频溅射C.磁控溅射D.离子束溅射

2.靶材中毒常见于?

A.金属靶+氧气B.绝缘靶+氩气C.半导体靶+氮气D.金属靶+氩气

3.光刻不包括的步骤是?

A.涂胶B.曝光C.显影D.焊接

4.分子泵的作用是?

A.粗真空B.高真空C.维持大气压D.过滤气体

5.导致薄膜起皱的应力是?

A.压应力B.拉应力C.零应力D.混合应力

6.氩气纯度通常要求?

A.99.9%B.99.99%C.99.999%D.99%

7.退火不具备的作用是?

A.降应力B.提附着力C.增厚度D.改善结晶

8.划格法最高附着力等级是?

A.5BB.1BC.5AD.1A

9.靶基距过大导致薄膜?

A.速率提高B.均匀性差C.应力减小D.纯度提高

10.射频溅射可用于?

A.仅金属B.仅半导体C.仅绝缘D.金属/半导体/绝缘

答案:1.C;2.A;3.D;4.B;5.A;6.C;7.C;8.A;9.B;10.D

多项选择题(10题,每题2分,多选少选不得分)

1.磁控溅射优势包括?

A.速率高B.靶利用率高C.衬底温度低D.仅导电靶

2.溅射前真空处理步骤?

A.机械泵粗抽B.分子泵高抽C.烘烤除气D.通工作气

3.薄膜常见缺陷?

A.针孔B.应力开裂C.厚度不均D.结晶度高

4.光刻关键步骤?

A.涂胶B.预烘C.曝光D.后烘

5.影响附着力的因素?

A.衬底粗糙度B.溅射功率C.退火温度D.靶材纯度

6.真空系统组成?

A.获得系统B.测量系统C.腔体D.电源系统

7.常用靶材类型?

A.金属靶B.合金靶C.陶瓷靶D.有机靶

8.薄膜性能测试项目?

A.厚度B.附着力C.电阻率D.硬度

9.靶材制备要求?

A.纯度高B.密度均匀C.表面平整D.含杂质多

10.设备维护要点?

A.换真空泵油B.清洁靶面C.查密封件D.忽略腔体清洁

答案:1.ABC;2.ABC;3.ABC;4.ABCD;5.ABC;6.ABC;7.ABC;8.ABCD;9.ABC;10.ABC

判断题(10题,每题2分,√/×)

1.直流溅射可用于绝缘靶材。(×)

2.磁控溅射靶利用率比直流高。(√)

3.真空度越高,沉积速率越快。(×)

4.退火温度越高,附着力越强。(×)

5.正胶曝光区域可溶于显影液。(√)

6.氩气是唯一工作气体。(×)

7.台阶仪可测薄膜厚度。(√)

8.划格法等级越低附着力越好。(×)

9.靶基距越小,均匀性越好。(×)

10.射频溅射可同时沉积多种靶材。(×)

简答题(4题,每题5分)

1.简述磁控溅射基本原理

答:基于辉光放电,利用磁场约束电子呈螺旋运动,延长其在等离子体中的停留时间,提高氩气电离效率,产生更多氩离子。氩离子在电场加速下轰击靶材,使靶原子溅射沉积在衬底。磁场增强等离子体密度,降低衬底温度,提升速率和靶利用率,是核心区别于普通溅射的关键。

2.溅射前真空处理步骤

答:①粗抽:机械泵抽至10Pa以下;②高抽:分子泵抽至1e-3Pa以下;③烘烤:100-200℃除衬底/腔体吸附水汽;④检漏:氦质谱仪查密封;⑤通工作气:氩气至0.5-5Pa,准备溅射。

3.影响薄膜附着力的因素

答:①衬底:粗糙度、清洁度(油污/氧化层);②工艺:功率(过高轰击衬底)、气压(过低衬底温高)、靶基距(过近应力集中);③匹配性:晶格/热膨胀系数差异;④后处理:退火(降应力)、离子轰击(强界面结合)。

4.光刻在薄膜电路中的作用及步骤

答:作用:转移电路图形。步骤:①涂胶;②预烘(去溶剂);③曝光(掩模+紫外);④显影(溶曝光区正胶);⑤后烘(固化胶);⑥刻蚀(干法/湿法去未覆盖薄膜);⑦去胶(除残留胶)。

讨论题(2题,每题5分)

1.如何解决靶材中毒问题?

答:靶材中毒是金属靶与反应气生成绝缘层,导致速率下降。措施:①分压控制:实时调节反应气流量,维持金属/中毒模式;②中频电源:40kHz避免电荷积累;③靶预处理:氩离

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