CN113963049B 一种像素尺寸、实际尺寸的测量方法及电子设备 (上海精测半导体技术有限公司).docxVIP

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  • 2026-03-14 发布于山西
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CN113963049B 一种像素尺寸、实际尺寸的测量方法及电子设备 (上海精测半导体技术有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN113963049B

(45)授权公告日2025.06.06

(21)申请号202111258260.5

(22)申请日2021.10.27

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN113963049A

(43)申请公布日2022.01.21

(73)专利权人上海精测半导体技术有限公司地址201702上海市青浦区徐泾镇双浜路

269、299号1幢1、3层

(72)发明人周全李宜清肖博翰简晓敏

(74)专利代理机构武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)42224

专利代理师雷

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