《材料现代分析与测试技术》课程课件_.pptxVIP

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  • 2026-03-31 发布于广东
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《材料现代分析与测试技术》课程课件_.pptx

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反冲电子:非相干散射过程中,电子被碰撞而改变方向;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;

转晶相机;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;

?若Pi>mi,中间点i值可能比相邻两点都大。或有一相邻点的值比它的值小很多,而另一点则大不了许多,因而i点与比它稍大那点有可能是在峰上,而不是在本底上,因此用mi代替Pi。

?若Pi<mi,Pi之值比相邻两点之值都小,或它比一个相邻点小得多,而另一相邻点比它小不了许多,故此i点与更小的相邻点在峰上的可能性较小,mi可能在背底上,故保留Pi值。

?对所有n个数据点都进行这样的计算(仅两端的两个点无法计算),得到一个新的数据组,一部分原来在衍射峰上的具有较高强度值的点向背底靠近。反复进行这样的平均计算,经过若干次迭代,高值点最终落到背底线上,新得到mi与Pi接近了,停止计算,得到了背底线。;;;;;;;;;;;;;;;

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