CN119394336A 一种针对IC环境偏差的Gsensor自动化测试方法 (深圳市大晶光电科技有限公司).docxVIP

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  • 2026-04-14 发布于山西
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CN119394336A 一种针对IC环境偏差的Gsensor自动化测试方法 (深圳市大晶光电科技有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119394336A

(43)申请公布日2025.02.07

(21)申请号202510009822.4

(22)申请日2025.01.03

(71)申请人深圳市大晶光电科技有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区西乡街

道共乐社区铁仔路50号凤凰智谷A栋

1106

(72)发明人刘汉辉陈建荣

(74)专利代理机构深圳市高智新知识产权代理事务所(普通合伙)441060

专利代理师孙建群

(51)Int.Cl.

G01C25/00(2006.01)

G01P21/00(2006.0

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