基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法：原理、优化与应用.docx

基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法：原理、优化与应用

一、引言

1.1研究背景与动机

在当今数字化时代，数字系统已广泛渗透到生活的各个领域，从日常使用的电子设备到复杂的工业控制系统，都离不开数字系统的支持。而集成电路作为数字系统的核心组成部分，其性能和可靠性直接决定了数字系统的质量和稳定性。近几十年来，超大规模集成技术取得了迅猛发展，芯片中晶体管的密度呈指数倍增长，这使得集成电路的功能更加强大、体积更加小巧。然而，随着晶体管密度的不断增加，集成电路的测试也面临着前所未有的挑战。

集成电路测试是确保其质量和性能的关键环节，它通过对集成电路施加各种测试向量，观察其输出响应，与预期的正确结