基于破坏性物理分析的假冒翻新器件识别方法.pdfVIP

电子产品可靠性与环境试验可靠性物理与失效分析技术VoL40No.4Aug.,2022

ELECTRONICPRODUCTRELIABILITYANDENVIRONMENTALTESTING2022年8月第40卷第4期

基于破坏性物理分析的假冒翻新器件识别方法

杨智帆阳川李凌博2,胡波,兰楠1

(1.重庆赛宝工业技术研究院有限公司，重庆401332；

2.工业和信息化部电子第五研究所，广东广州511370；

3.智能电子电器可靠性技术重庆市重点实验室，重庆401332)

摘要：假冒翻新电子元器件大量存在于当前电子产品领域。基于破坏性物理分析技术，探讨了如何识别假

冒翻新器件；阐述了利用外部目检、X射线检查、声学扫描显微镜检查和内部目检等技术手段识别假冒翻新器

件的具体方法，以期为减少假冒翻新器件、提高产品的可靠性提供一定的指导。

关键词：电子元器件