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电子产品可靠性测试与验证

第1章电子产品可靠性测试基础理论

1.1可靠性模型与参数定义

可靠性模型是描述产品寿命概率分布的数学框架，最常用的是威布尔分布（WeibullDistribution），其核心参数包括形状参数$m$（反映失效模式）、尺度参数$\eta$（决定寿命长短）和位置参数$\eta_0$（决定寿命起点）。在定义参数时，必须明确区分“物理寿命”与“统计寿命”，例如对于电子元件，物理寿命通常指从出厂到失效的时间，而统计寿命则是基于大量样本数据拟合出的平均寿命$\eta$，两者可能因老化效应产生偏差。

对于加速寿命测试（ALT）中的应力参数，需定义“应力系数”