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半导体质量主管笔试真题及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题

1.以下哪个选项不属于ISO9001质量管理体系的核心要素？

A.质量方针与目标

B.过程方法

C.绩效改进

D.文件与记录控制

2.在统计过程控制（SPC）中，控制图上出现单点超出控制界限时，通常首先应考虑的措施是？

A.立即停止生产，进行调查

B.认为这是随机波动，无需特别关注

C.查找并消除导致点超出界限的特殊原因

D.增加样本量，提高检测精度

3.以下哪种方法最适合用于识别导致产品或过程问题的根本原因？

A.流程图（Flowchart）

B.鱼骨图（FishboneDiagram）

C.控制图（ControlChart）

D.直方图（Histogram）

4.在失效模式与影响分析（FMEA）中，通常用字母U表示？

A.已实施的措施（RecommendedAction）

B.不建议采取行动（NotRecommendedAction）

C.已验证的措施（VerifiedAction）

D.未实施的建议措施（UnimplementedAction）

5.测量系统分