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毕业设计（论文）报告
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p-GaN基铁电薄膜的微结构、光电性质及温度依赖性研究
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p-GaN基铁电薄膜的微结构、光电性质及温度依赖性研究
摘要：本文研究了p-GaN基铁电薄膜的微结构、光电性质及其温度依赖性。首先，通过原子力显微镜（AFM）和透射电子显微镜（TEM）等手段对薄膜的微结构进行了表征，发现薄膜具有均匀的晶粒结构和良好的结晶质量。其次，利用紫外-可见光吸收光谱和光致发光光谱研究了薄膜的光电性质，结果表明薄膜具有优异的光吸收性能和光致发光性能
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