CN119514470A 芯片仿真软件中的几何特征提取方法、电子设备 （武创芯研科技(武汉)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119514470A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202510091623.2

(22)申请日2025.01.21

(71)申请人武创芯研科技（武汉）有限公司

地址430075湖北省武汉市东湖新技术开

发区高新大道以北、荷英路以西药监

路一号商务项目B座13层

(72)发明人张适陈涛秦松

(74)专利代理机构北京汇泽知识产权代理有限

公司11228

专利代理师吴俣

(51)Int.Cl.

G06F30/392(2020.01)

G06F30/398(2020.01)

权利要求书2页说明书10页附图1页

(54)发明名称

芯片仿真软件中的几何特征提取方法、电子

设备

(57)摘要

CN119514470A本发明公开了一种芯片仿真软件中的几何特征提取方法、电子设备，该方法包括如下步骤：对获取的几何模型进行网格划分，生成若干网格单元；对每个网格单元进行几何特征识别，当识别到几何特征时，查询特征列表，判断该特征是否已经存在，如果不存在，则将该特征存储到特征列表，直至几何特征提取步骤结束，得到不重复几何特征列表；输出不重复几何特征列表，供芯片仿真软件使用。本发明解决了现有技术中存在的重复几何特征、识别不准确和计算资源消耗大的问题，通过该方