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2026年相控阵检测的试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1.相控阵检测中，常用的激励信号类型有______和______。

2.相控阵检测中，阵列天线的单元数量通常为______个。

3.相控阵检测中，波束形成的主要目的是______。

4.相控阵检测中，常用的波束形成算法有______和______。

5.相控阵检测中，阵列天线的布局方式主要有______、______和______。

6.相控阵检测中，信号处理的主要任务包括______、______和______。

7.相控阵检测中，常用的缺陷检测方法有______和______。

8.相控阵检测中，阵列天线的馈电网络主要作用是______。

9.相控阵检测中，常用的缺陷定位方法有______和______。

10.相控阵检测中，阵列天线的校准主要目的是______。

二、判断题（每题2分，共20分）

1.相控阵检测只能用于金属材料的检测。（）

2.相控阵检测的波束形成算法只有一种。（）

3.相控阵检测中，阵列天线的单元数量越多，检测精度越高。（）

4.相控阵检测中，常用的缺陷检测方法只有超声波检测。（）

5.相控阵检测中，波束形成的主要目的是提高检测灵敏度。（）

6.相控阵检测中，阵列天线的布局方式只有一种。（）

7.相控阵检测中，信号处理的主要任务只有滤波。（