CN120260662A 一种ate测试设备的结果存储装置及方法 （上海御渡半导体科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120260662A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510311375.8

(22)申请日2025.03.17

(71)申请人上海御渡半导体科技有限公司

地址201306上海市浦东新区中国（上海）

自由贸易试验区临港新片区云鹃路

128号港城广场一街坊2号楼2楼

(72)发明人乔世栋朱小荣程绪

(74)专利代理机构上海和华启核知识产权代理

有限公司31339

专利代理师余昌昊

(51)Int.Cl.

G11C29/56(2006.01)

权利要求书2页说明书10页附图3页