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CN119559997A 一种存储芯片的测试系统及测试方法 （合肥康芯威存储技术有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-15 发布于山西
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CN119559997A 一种存储芯片的测试系统及测试方法 （合肥康芯威存储技术有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119559997A

    (43)申请公布日2025.03.04

    (21)申请号202510111871.9

    (22)申请日2025.01.24

    (71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司

    地址230601安徽省合肥市经济技术开发

    区宿松路3963号智能装备科技园D3栋

    5层

    (72)发明人余玉许展榕

    (74)专利代理机构上海汉之律师事务所31378

    专利代理师王海胜

    (51)Int.Cl.

    G11C29/56(2006.01)

    G11C29/08(2006.01)

    权利要求书2页说明书

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