摘要
硒化锡(SnSe)作为第IV主族金属硫族化合物中的一员,以其独特的窄带
隙结构在众多材料中脱颖而出,成为半导体领域的研究热点。它不仅具备优秀的
高载流子迁移率的特性,还展现出了非凡的热电性能。尤为引人注目的是,硒化
锡的带隙值介于1.0至1.4eV之间,这一独特性质为光电探测器等应用领域提供
了广阔前景。但是,由于SnSe内部的本征空位缺陷会造成较强的声子散射,从
而对光电探测器的性能造成不利的影响,因此本文尝试调控SnSe纳米片(NSs)
的声子散射强度的来提
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