CN119991570A 一种通过边缘增强提高晶圆体缺陷检测准确率的方法 (深圳智现未来工业软件有限公司).pdfVIP

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  • 2026-05-27 发布于重庆
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CN119991570A 一种通过边缘增强提高晶圆体缺陷检测准确率的方法 (深圳智现未来工业软件有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119991570A

(43)申请公布日2025.05.13

(21)申请号202411969093.9G06V10/44(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

(22)申请日2024.12.30

G06V10/82(2022.01)

(71)申请人深圳智现未来工业软件有限公司G06N3/045(2023.01)

地址518000广东省深圳市南山区西丽街

G06N3/0464(2

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