芯片封测制造项目晶圆测试程序开发方案.docx

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芯片封测制造项目晶圆测试程序开发方案

目录TOC\o1-4\z\u

一、项目范围与目标 3

二、晶圆测试需求分析 4

三、产品与工艺信息整理 7

四、测试程序开发原则 9

五、测试平台选型要求 11

六、测试机台接口规范 13

七、探针卡匹配要求 16

八、测试流程设计 19

九、测试项定义方法 22

十、测试向量编制 24

十一、时序参数配置 25

十二、电压电流限值设置 27

十三、测试模式规划 30

十四、失败判定逻辑 34

十五、分档规则设计 36

十六、数据采集机制 39

十七、结果判读方法 42

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