CN119644122A 一种车规半导体芯片扫描检测装置及控制方法 （上海聚跃检测技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119644122A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510176861.3

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人上海聚跃检测技术有限公司

地址200120上海市浦东新区张东路1388

号2幢101室

(72)发明人余夕霞

(74)专利代理机构苏州三英知识产权代理有限

公司32412

专利代理师席勇

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一种车规半导体芯片扫描检测装置及控制

方法

(57)摘要

CN119644122A本申请公开了一种车规半导体芯片扫描检测装置及控制方法。该装置采用层叠式设计，包括测试基板、测试电路层和芯片安装层。芯片安装层上设有多个待测芯片安装槽，每个槽内均配置有与测试电路层电连接的测试输入垫和测试输出垫，便于待测芯片的快速准确连接。测试电路层负责信号的传输与引导，确保测试信号能够准确送达并接收来自芯片的响应。特别地，测试基板上还集成了加热单元和振动单元，能够模拟汽车实际运行中的极端温度和高振动环境。此方案不仅实现了多芯片同时检测，提高了测试效率，还使测试结果更加贴近实际，增强了测试的

CN119644122A

CN11964412