半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动编制说明.docxVIP

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法

第12部分：扫频振动》（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1、任务来源

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动》是2025年国家标准化管理委员会下达的第十批推荐性国家标准计划项目，计划项目发布文号：国标委发【2025】58号，计划号T-339。由中华人民共和国工业和信息化部提出，全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口，第一起草单位为河北北芯半导体科技有限公司，其他起草单位为中国电子科技集团公司第十三研究所、天津大学、西安电子科技大学、大连理工大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京遥感设备研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所、中电科第三代半导体科技有限公司、河北新华北集成电路有限公司、厦门锐信图芯科技有限公司、浙江翠展微电子有限公司、西安西测测试技术股份有限公司。项目起止时间：2025年10月-2026年10月（周期12个月）。

2、制定背景

GB/T4937.12-2018是专门针对半导体器件的扫频振动试验标准，自发布以来被广泛应用，对半导体器件的可靠性评价，对器件的质量提升、工艺改进起到了良好的指导作用，促进了国内半导体器件产业发展。但试验中也暴露出一些问题，体现在标准的试验程序部分描述不够详细，试验条件单一，并且未对试验后的检验方法进行明确说明，导致各单