半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照编制说明.docxVIP

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第17部分：

中子辐照》（征求意见稿）编制说明

一、工作简况

1、任务来源

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照》是2025年国家标准化管理委员会下达的第十批推荐性国家标准计划项目，计划项目发布文号：国标委发【2025】58号，计划号T-339。由中华人民共和国工业和信息化部提出，全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口，第一起草单位为河北北芯半导体科技有限公司，其他起草单位为中国工程物理研究院核物理与化学研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、工业和信息化部电子第五研究所、大连理工大学、西安空间无线电技术研究所、武汉格物芯科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、河北新华北集成电路有限公司、中电科第三代半导体科技有限公司。项目起止时间：2025年11月-2026年10月（周期12个月）。

2、制定背景

GB/T4937系列标准等同采用IEC60749系列标准，保证半导体器件试验方法与国际标准一致，实现半导体器件检验方法、可靠性评价、质量水平与国际接轨。通过制定该系列标准，确定统一的试验方法及应力，评价半导体器件的环境适应性，对半导体器件的研究、生产、检验和使用具有重要意义，同时补充完善半导体器件标准体系，为半导体器件行业的发展起