CN119670661A 一种集成电路最差性能处理方法 （青岛青软晶尊微电子科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119670661A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510198642.5

(22)申请日2025.02.24

(71)申请人青岛青软晶尊微电子科技有限公司

地址266101山东省青岛市崂山区株洲路

88号1栋10层1002

(72)发明人马艳辉张侠李克坚苑芳

(74)专利代理机构北京法筑知识产权代理有限

公司16100

专利代理师李明

(51)Int.Cl.

G06F30/367(2020.01)

G06F111/04(2020.01)

G06F119/02(2020.01)

权利要求书3页说明书15页附图1页

(54)发明名称

一种集成电路最差性能处理方法

(57)摘要

CN119670661A本申请公开了本申请提出了一种集成电路最差性能处理方法，涉集成电路领域，包括：采用修正的正态分布累积分布函数CDF来描述失效率与电路性能之间的非线性，引入偏斜度参数和峰度参数；对采样点进行权重计算，突出失效边界附近的重要样本，并在局部区域内采用加权最小二乘回归构建局部线性模型。在全局尺度上，通过对采样矩阵进行对数变换，将特征分布从非线性转化为近似线性，并采用正交匹配追踪算法构建稀疏的全局线性模型，提高了模型的泛化能力和解释