CN119692268A 一种基于bist的tsv测试诊断电路及方法 （南京邮电大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119692268A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510206482.4

(22)申请日2025.02.25

(71)申请人南京邮电大学

地址210003江苏省南京市鼓楼区新模范

马路66号

(72)发明人蔡志匡刘小婷杨大智王子轩刘璐郭静静郭宇锋

(74)专利代理机构南京正联知识产权代理有限

公司32243

专利代理师张玉红

(51)Int.Cl.

G06F30/333(2020.01)

权利要求书3页说明书7页附图4页

(54)发明名称

一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法

(57)摘要

CN119692268A本发明属于超大规模集成电路可测性设计技术领域，公开了一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法，提供了一种用于TSV测试和诊断的硬件电路架构，包含测试访问端口控制器、测试数据寄存器、测试向量生成器、移位寄存器、双边沿触发器、TSV测试控制器和改进的加载芯片包装寄存器、捕获芯片包装寄存器，其中测试访问端口控制器负责配置测试路径、测试模式和测试使能信号，测试使能经双边沿触发器同步后激活TSV测试控制器，控制基于无损压缩结构改进的芯片包装寄存器执行测试，实现故障高效检测与不同故障类型的诊断。本发明通过