CN119693738A 一种结构化知识驱动的工业缺陷检测方法及系统 （北京航空航天大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119693738A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202411858312.6

(22)申请日2024.12.17

(71)申请人北京航空航天大学

地址100191北京市海淀区学院路37号

(72)发明人李红裔赵迪石泽

(74)专利代理机构北京东方盛凡知识产权代理

有限公司11562

专利代理师袁凯

(51)Int.Cl.

G06V10/774(2022.01)

G06N5/022(2023.01)

G06N3/042(2023.01)

G06N3/096(2023.01)

G06V10/40(2022.01)

G06N3/048(2023.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06V10/764(2022.01)

权利要求书3页说明书10页附图2页

(54)发明名称

一种结构化知识驱动的工业缺陷检测方法

及系统

(57)摘要

CN119693738A本发明属于工业检测技术领域，公开了一种结构化知识驱动的工业缺陷检测方法及系统，获取与产品相关的制造数据，利用所述制造数据构建一个反映出工业产品缺陷特征与加工过程、环境之间关系的知识图谱；将建立的工业缺陷知识图谱视为异构信息网络，利用异构图神经网络