CN119768823A 超分辨率分析系统、方法及相应成像设备和模型训练方法 （深圳华大智造科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119768823A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202280099462.6

(22)申请日2022.08.30

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.02.21

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/CN2022/1159242022.08.30

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/044981ZH2024.03.07

(71)申请人深圳华大智造科技股份有限公司

地址518083广东省深圳市盐田区北山工

业区综合楼及11栋2楼

(72)发明人张银川