CN119805154A 测试电路及其控制方法、存储介质、芯片 （上海复旦微电子集团股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119805154A

(43)申请公布日2025.04.11

(21)申请号202311302590.9

(22)申请日2023.10.09

(71)申请人上海复旦微电子集团股份有限公司

地址200433上海市杨浦区国泰路127号复

旦国家大学科技园4号楼

(72)发明人杨丽婷俞剑陈宁

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师吴敏

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图4页

(54)发明名称

测试电路及其控制方法、存储介质、芯片

(57)摘要

CN119805154A一种测试电路及其控制方法、存储介质、芯片，测试电路包括至少一个级联的测试模块，测试模块包括：第一信号选择单元，第一信号选择单元的第一输入端耦接待测试模块中的插入点的输出端，第一信号选择单元的第二输入端耦接前一级测试模块的输出端或者测试向量输入端；寄存单元，寄存单元的输入端耦接第一信号选择单元的输出端，寄存单元的输出端为测试模块的输出端；第二信号选择单元，第二信号选择单元用于选择性地将待测试模块中的插入点的输出信号或者寄存单元中的信号输出至后级负载电路。本申请能够对待测试模块进行任意切割和划

CN11980515