CN119811230A 一种测试基板及其制作方法和测试方法 （重庆康佳光电科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119811230A

(43)申请公布日2025.04.11

(21)申请号202311309051.8

(22)申请日2023.10.10

(71)申请人重庆康佳光电科技有限公司

地址402760重庆市璧山区璧泉街道钨山

路69号（1号厂房）

(72)发明人靳春明林建宏李宏韬

(74)专利代理机构深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281

专利代理师李发兵

(51)Int.Cl.

G09G3/00(2006.01)

G09G3/32(2016.01)

权利要求书1页说明书7页附图3页

(54)发明名称

一种测试基板及其制作方法和测试方法

(57)摘要

CN119811230A本申请涉及一种测试基板及其制作方法和测试方法。测试基板包括基板主体以及设于基板主体一侧的至少两条驱动线路，每条驱动线路包括相同数量的至少两个检测区域，各检测区域用于设置相同数量的发光芯片以进行检测；各驱动线路中，检测区域沿驱动线路的电流传输方向设置，且不同的驱动线路上的检测区域的设置间隔不同；任一驱动线路中的各检测区域的设置间隔为另一任意驱动线路中的各检测区域的设置间隔按比例放大或缩小；各驱动线路之间的线宽以及厚度的差距不超过10％，且材料相同。一些实施过程中，能够降低成本，且有利于加