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可调谐激光器芯片基本性能测试分析案例
目录
TOC\o1-3\h\u29290可调谐激光器芯片基本性能测试分析案例 1
201971.1基本性能测试平台及方法 1
169933.1.1测试平台 2
280543.1.2测试方法 3
147661.2激光器芯片基本性能测试结果及分析 5
基本性能测试平台及方法
本研究中测试的可调谐激光器及其芯片阵列的设计,已在章节2.1.1中进行了详细讲解。由于激光器芯片尺寸非常微小,通常要对芯片进行解理处理后再进行测试。图3.1为解理后的激光器阵列芯片在显微镜下的图像,图像中电极上的黑点为进
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