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《集成电路测试》课件 7-CD4511功能测试实现流程.pptxVIP

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  • 2026-07-09 发布于山东
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《集成电路测试》课件 7-CD4511功能测试实现流程.pptx

    项目3CD4511芯片测试

    添加标题项目3CD4511芯片测试二、CD4511功能测试实现流程1．功能测试实现方法（1）使能灯测试。使输入高电平，LE和输入低电平，A0～A3输入0～9中除8（1000B）以外的任意数，逐一验证Ya～Yg输出是否全为高电平，即显示数字8，测试灯控制引脚是否正常。（2）显示“0”～“9”测试。使和输入高电平，LE输入低电平，A0～A3依次输入数字0（0000B）～9（1001B），逐一验证Ya～Yg输出是否与真值表相符。若符合，则芯片为良品，否则为不良品任务10CD4511的功

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