ISO 164132020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告标准立项发展报告.docx

ISO 164132020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告标准立项发展报告.docx

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标题:ISO16413:2020通过X射线反射法评估薄膜的厚度、密度和界面宽度-仪器要求、对准和定位、数据采集、数据分析和报告标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:ISO16413:2020—Evaluationofthickness,densityandinterfacewidthofthinfilmsbyX-rayreflectometry—Instrumentalrequirements,alignmentandpositioning,datacol

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