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CN120013943B 基于深度学习的晶圆级探针台接触痕迹智能评估分析方法 （中科芯(苏州)微电子科技有限公司）.docxVIP

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  • 2026-07-15 发布于山西
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CN120013943B 基于深度学习的晶圆级探针台接触痕迹智能评估分析方法 （中科芯(苏州)微电子科技有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN120013943B

    (45)授权公告日2025.06.24

    (21)申请号202510493656.X

    (22)申请日2025.04.18

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN120013943A

    (43)申请公布日2025.05.16

    (73)专利权人中科芯（苏州）微电子科技有限公司

    地址215124江苏省苏州市中国（江苏）自

    由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城1幢505、507

    专利权人中科（合肥）微电子研究院有限公司

    (72)发明人苌凤义宋伟

    (74)

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