CN120031882A 一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质 （深圳精智达技术股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120031882A

(43)申请公布日2025.05.23

(21)申请号202510512963.8

(22)申请日2025.04.23

(71)申请人深圳精智达技术股份有限公司

地址518000广东省深圳市龙华区龙华街

道清湖社区清湖村富安娜公司1号101

工业园D栋1楼东

(72)发明人张景程杨硕张滨刘祥超

(74)专利代理机构深圳腾文知识产权代理有限

公司44680

专利代理师钟奉展

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/46(2022.01)

权利要求书2页说明书14页附图4页

(54)发明名称

一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置

及存储介质

(57)摘要

CN120031882A本申请公开了一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对不同显著性缺陷的检测能力。获取待测显示屏的反射条纹图像；对所述反射条纹图像进行相位提取和相位解包裹处理，生成相位分布数据；提取所述相位分布数据的梯度数据；根据所述梯度数据和显著性阈值对所述反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果，所述多层级显著性识别结果包括高显著性检测结果、中显著