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面向算力互联的片上光频梳光谱仪：基于双光梳光谱技术的集成化精密光谱测量趋势

摘要

本报告聚焦于先进调制与复用方向，深入探讨芯片级双光梳光谱技术在光网络物理层监测中的集成化应用趋势，预测周期为2025年至2030年。

核心趋势判断是，随着算力互联对带宽和信号质量提出严苛要求，传统光谱仪（OSA）因体积、成本和速度局限，将无法满足分布式、高精度的信道监测需求。而基于微腔孤子光频梳的片上双光梳光谱仪，凭借其无机械扫描、高速测量和高分辨率的优势，正从实验室加速走向集成化应用。

关键预测数据显示，到2028年，芯片级光频谱监测模块的尺寸将缩小至当前的1/10，功耗降至毫瓦级，同时单次测量速度提升千倍以上，能够实时解析密集波分复用（DWDM）系统中每个信道的中心波长、功率及光信噪比（OSNR）。报告遵循“环境→现状→趋势→演进→预测→影响→建议”的逻辑，首先分析算力网络驱动下的产业宏观环境，接着评估双光梳技术的成熟度，进而研判其在光网络监测中的高确定性趋势，最终构建场景化预测，并指出该技术将重塑光层运维的数字化底层架构。

读者仅凭本摘要，即可把握集成化双光梳光谱仪将作为下一代自动光网络感知核心，实现光信道功率监测的毫秒级响应与OSNR的无带外噪声精确测量的核心要点。

第一章报告概述

1.1研究背景与目标

当前，全球光通信行业正处在从“带宽驱动”向“算力互联”转型的关键转折