IEC 62047-462025 半导体器件微机电器件第46部分硅基MEMS制造技术纳米级厚度膜拉伸强度的测量方法标准立项发展报告.docx

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半导体器件微机电器件第46部分:硅基MEMS制造技术纳米级厚度膜拉伸强度的测量方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part46:SiliconbasedMEMSfabricationtechnology-Measurementmethodoftensilestrengthofnanoscalethicknessmembrane

摘要

随着微机电系统(MEMS)技术在消费电子、汽车电子、生

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