陶瓷材料中硫含量测定 氧流燃烧-ICP-OESIC法 标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-09-05 发布于北京
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陶瓷材料中硫含量测定 氧流燃烧-ICP-OESIC法 标准立项发展报告.docx

陶瓷材料中硫含量测定氧流燃烧-ICP-OES/IC法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Testingofceramicmaterials—Determinationofsulfurinnon-oxidicceramicrawmaterialsandceramicmaterials—Part2:Inductivelycoupledplasmaopticalemissionspectrometry(ICP-OES)orionchromatography(IC)afterburningintheoxygenflow

摘要

随着先进陶瓷材料在航空航天、半导体、新能源及核工业等战略性领域的广泛应用,非氧化物陶瓷(如碳化硅、氮化硅、氮化铝等)中硫元素的含量对其高温性能、电学特性及制品可靠性产生显著影响。硫的存在不仅可能导致陶瓷基体在高温服役条件下产生晶界脆化和气体逸出,还直接关系到原料纯度评价与工艺过程控制。国际标准ISO14720-2:2026在此背景下应运而生,规定了在氧流中燃烧样品后,采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)或离子色谱法(IC)测定非氧化物陶瓷原料及陶瓷材料中硫含量的方法原理、仪器设备、试剂材料、分析步骤及精密度要求。该标准涵盖的硫含

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