CN119850619A 基于图像分析的led异形屏表面缺陷检测方法及装置 （深圳市鸿茂元智光电有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119850619A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510329382.0

(22)申请日2025.03.20

(71)申请人深圳市鸿茂元智光电有限公司

地址518000广东省深圳市光明区玉塘街

道玉塘社区同观路十九号路10号九洲

工业园厂房1栋201、802

(72)发明人马世超

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T5/30(2006.01)

G06T5/80(2024.01)

G06T7/13(2017.01)

权利要求书3页说明书10页附图1页

(54)发明名称

基于图像分析的LED异形屏表面缺陷检测方

法及装置

(57)摘要

CN119850619A本发明提供了一种基于图像分析的LED异形屏表面缺陷检测方法及装置，涉及图像处理技术领域。基于图像分析的LED异形屏表面缺陷检测装置包括数据采集模块、几何校正模块、灰度图像处理模块、特征区域提取模块、特征区域融合模块和亮度异常检测模块。本发明通过对采集到的多张测试图像进行几何校正处理得到多张第一灰度图像，对第一灰度图像进行边缘检测和线检测，并基于形态学操作有效消除视角变形和噪声的干扰，结合小波变换和多尺度分析准确提取和识别LED异形屏上的亮度异常区域，实