CN119850624A 一种电阻片缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质 （北京金冠智能电气科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119850624A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510330981.4

(22)申请日2025.03.20

(71)申请人北京金冠智能电气科技有限公司

地址100000北京市顺义区杜杨北街3号院

8号楼1层101室

申请人金冠电气股份有限公司

(72)发明人徐学亭翟鹏飞朱倍倍刘亚芸艾三徐沛常鹏刘万兆胡超尚林坡朱红岩段钧洋樊崇

(74)专利代理机构河北星冀专利代理事务所(特殊普通合伙)13166

专利代理师饶婷

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G01N21/88(2006.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/774(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0475(2023.01)

G06N3/045(2023.01)

G06N3/094(2023.01)

G06N20/20(2019.01)

权利要求书2页说明书10页附图2页

(54)发明名称

一种电阻片缺陷检测方法及装置、电子设

备、存储介质

(57)摘要

CN119850624A本公开提供了一种电阻片缺陷检测方