CN119850636A 一种基于背景重构的mura缺陷检测方法及相关设备 （深圳市正通仁禾科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119850636A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510340873.5

(22)申请日2025.03.21

(71)申请人深圳市正通仁禾科技有限公司

地址518110广东省深圳市龙华区观澜街

道桂花社区桂花路113号正通仁禾产业园

(72)发明人郭贵华刘竞徐勤

(74)专利代理机构深圳维启专利代理有限公司44827

专利代理师常忠良

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/136(2017.01)

G06T5/10(2006.01)

G06T5/60(2024.01)

G06T5/70(2024.01)

G06T5/90(2024.01)

G06T5/30(2006.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/08(2023.01)

权利要求书2页说明书18页附图2页

(54)发明名称

一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及

相关设备

(57)摘要

CN119850636A本发明公开了一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备，涉及图像处理领域。方法包括：获取显示面板所显示的初始图像；对初始图像进行离散余弦变换处理，以提取低频背景成分；基于奇