非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法.docxVIP

ICS77.040.01H17

中华人民共和国国家标准

GB/T替GB/T非本征半导体单晶霍尔迁移率和

霍尔系数测量方法

Extr,ns,csem,conductors,nglecrystalsmeasurementof

Hallmob,l,tyandHallcoeff,c,ent

2006-07-18发布2006-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

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I

GB/前言

本标准是对GB/T4326—1984《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》的修订。本标准是在原标准基础上,参考ASTMF76标准编制的。

本标准与原标准相比主要变动如下:

—在测量范围条款列举的材料中增加了磷化镓单晶材料,扩大了本标准的适用范围;

—增加了附录A,在附录A中列出f因子数值表,用于电阻率计算;

—增加了原理条款,简述了测量原理;

—在样品制备条款中规定样品切片必