相控阵天线碗状变形对其辐射性能的影响分析.pdfVIP

第40卷第2期

2024年4月Electro-MechanicalEngineering·创新与探索·

DOI:10.19659/j.issn.1008–5300.2024.02.013

相控阵天线碗状变形对其辐射性能的影响分析

胡祥涛，谢安祥

（安徽大学电气工程与自动化学院，安徽合肥230601）

摘要：如何快速而准确地评估天线阵面结构变形对电性能的影响是工程上亟需解决的关键问题。文中根据某大型相控阵天线

设计了3种规格的阵列天线，按照典型的天线阵面碗状变形，分别采用HFSS数值计算方法和有源阵元方向图（ActiveElement

Pattern,AEP）计算方法计算阵元Z向误差和指向误差对电性能的影响。结果表明：当Z向偏差小于λ/20（λ为波长）时，碗状变形

对副瓣电平和波束宽度的影响显著，对增益影响较小；当Z向偏差增大到λ/20时，天线增益明显恶化；随着阵元规模的增大，得益于

阵元互耦效应，碗状变形对电性能的影响减弱。AEP计算方法忽略了阵