金属增材制造件X射线荧光光谱分析工艺技能等级考核试卷.docVIP

金属增材制造件X射线荧光光谱分析工艺技能等级考核试卷

一、单项选择题（每题1分，共30题）

1.X射线荧光光谱分析中，以下哪种元素对基体效应最敏感？

A.Na

B.Mg

C.Al

D.Si

2.在进行金属增材制造件XRF分析前，样品表面处理的主要目的是什么？

A.增加样品重量

B.改变样品颜色

C.减少基体效应

D.提高样品导电性

3.XRF分析中，使用哪种探测器通常可以获得较高的分析灵敏度？

A.Si-PIN

B.SDD

C.EPMA

D.EDS

4.金属增材制造件中常见的元素是哪些？

A.C,H,O,N

B.Fe,Cu,Al,Ti

C.Na,K,Ca,Mg

D.Cl,Br,I,F

5.XR