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- 2026-09-09 发布于天津
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薄膜测试试卷及答案
考试时间:______分钟总分:______分姓名:______
一、选择题(每题2分,共20分)
1.下列哪种薄膜制备方法属于物理气相沉积(PVD)技术?()
A.化学气相沉积(CVD)
B.喷涂沉积
C.溅射沉积
D.溶胶-凝胶法
2.在使用椭偏仪测量薄膜厚度时,如果忽略薄膜的吸收,薄膜厚度计算公式主要依赖于哪个参数?()
A.入射角
B.复折射率(n+ik)
C.薄膜密度
D.基底折射率
3.下列哪个物理量不是薄膜的常见光学特性?()
A.折射率
B.消光系数
C.黏附力
D.透光率
4.用于测量薄膜与基底结合强度的测试方法通常是?()
A.椭偏法
B.X射线光电子能谱(XPS)
C.硬度计压痕法
D.傅里叶变换红外光谱(FTIR)
5.在薄膜材料表征中,扫描电子显微镜(SEM)主要用于观察?()
A.薄膜元素的化学状态
B.薄膜的表面形貌和微结构
C.薄膜的原子晶格排列
D.薄膜的光学吸收特性
6.X射线光电子能谱(XPS)技术能够提供的主要信息是?()
A.薄膜的厚度
B.
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