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HG/T5336-2018分子筛落粉度测定方法

1范围

本标准规定了颗粒状分子筛落粉度（表面粉尘含量）的测定方法。

本标准适用于各类工业颗粒状分子筛产品的落粉度检测，是判定颗粒分子筛表面粉尘附着量、产品洁净度及颗粒表面牢固度的核心检测依据。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T6003.1试验筛第1部分：技术要求和检验

GB/T6678化工产品采样总则

3术语和定义

落粉度：在本标准规定的试验条件下，颗粒状分子筛表面附着的松散粉尘脱落分离后，脱落粉尘质量占试样总质量的质量分数，单位为%。落粉度数值越低，代表分子筛颗粒表面洁净度越高、颗粒成型稳定性越好。

4试验原理

取一定量的干燥颗粒分子筛试样，置于标准试验筛中，在规定的筛分条件下进行振动筛分，使颗粒表面附着的游离粉尘、细粉完全脱落并通过筛网分离。通过精准称量筛分前后试样的质量差值，计算脱落粉尘占原试样的质量百分比，即为分子筛的落粉度。

5仪器与设备

5.1试验筛

符合GB/T6003.1要求的标准试验筛，根据分子筛产品常规粒径配套对应筛孔规格，筛框直径200mm，配备筛底和筛盖，筛网无破损、无变形、孔径均匀。试验前需清理筛网残留杂质，保证筛分通畅。

5.2