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集成电路边界扫描测试技术原理与应用.pdfVIP

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  • 2026-09-16 发布于北京
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集成电路边界扫描测试技术原理与应用.pdf

    什么是边界扫描？

    边界扫描(Boundary

    scan)是一项测试技术，在传统测试大规模、高集成电

    路测试需求的背景下应运而生。其原理是在IC设计阶段，于逻辑与每个器件引脚之间

    植入移位寄存器(shift

    register)，每个寄存器单元称为CELL。这些CELL允许开发者控制

    和观测每个输入/输出引脚的状态。当CELL串联时，便形成数据寄存器链(data

    register

    chain)，我们称之为边界寄存器(boundary

    register)。除移位寄存器外，IC还集成测试

    端口控制器(TAP

    con

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