CN119414207A 芯粒测试方法、装置及芯片 (海光信息技术股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-09-16 发布于重庆
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CN119414207A 芯粒测试方法、装置及芯片 (海光信息技术股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119414207A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202411572395.2

(22)申请日2024.11.05

(71)申请人海光信息技术股份有限公司

地址300000天津市滨海新区天津华苑产

业区海泰西路18号北2-204工业孵化-

3-8

(72)发明人刘勇江刘新春王建龙金军贵

(74)专利代理机构北京市广友专利事务所有限

责任公司11237

专利代理师张仲波

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R31/00(2006.01)

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