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车规芯片的零缺陷目标与在线测试：从功能安全到预期功能安全，半导体测试与验证的挑战

本报告概述

在汽车产业向智能化、电动化深度转型的浪潮中，车规级芯片已成为驱动车辆功能与安全的核心枢纽。本报告聚焦于车规芯片领域最为严苛的质量目标——零缺陷，并深入探讨为实现这一目标所必需的测试与可靠性保障体系。研究范围锁定在面向ISO26262ASIL-D最高安全完整性等级的测试策略，核心发现是：行业正从传统的“功能安全”测试，向融合“预期功能安全”的全新范式演进，这对半导体测试与验证提出了前所未有的挑战。

报告全景式地勾勒了从宏观环境到微观技术的完整图景。第一章首先描绘了车规芯片行业的趋势