太阳光电模块-侦测电位差导致衰减试验法-第1-1部结晶硅-脱层 标准立项发展报告.docxVIP

太阳光电模块-侦测电位差导致衰减试验法-第1-1部:结晶硅-脱层标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PhotovoltaicModules—TestMethodforDetectionofPotential-InducedDegradation—Part1-1:CrystallineSilicon—Delamination

摘要

随着全球能源转型加速，太阳光电产业高速发展，光伏组件的长期可靠性与耐久性成为行业关注焦点。电位差导致衰减现象作为影响组件发电性能与寿命的关键失效模式，对晶硅组件的安全稳定运行构成重大威胁，尤其表现为层压工艺缺陷引发的脱层问题。为统一检测方法、提升产品质量、保障终端电站投资收益，经济部标准检验局制定并发布了CNS62804-1-1-2026《太阳光电模块-侦测电位差导致衰减试验法-第1-1部:结晶硅-脱层》。本标准参考国际电工委员会IEC62804-1-1相关技术框架，结合台湾地区气候环境特征与产业需求，规定了结晶硅光伏组件在电位差应力作用下产生脱层失效的试验原理、设备、步骤及判定准则。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、关键技术内容、创新特点及实施意义，并详细介绍了标准制修订工作的主要参与单位。该标准的发布填补了台湾地区光伏组件PID脱层检测领域的方法空白，