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X射线衍射检验规范

1范围

本规范规定了X射线衍射（XRD）检验的术语定义、检验原理、仪器设备要求、样品制备方法、检验操作流程、数据处理与分析、结果报告要求、质量控制措施及安全防护规范。本规范适用于无机晶体材料的物相定性与定量分析、结晶度测定、晶粒尺寸计算、微观应力分析、点阵参数测定及晶体取向分析等检验场景，涵盖冶金、建材、地质、化工、新材料、生物医药等领域的固体样品检验，不适用于非晶态完全无序材料、强放射性样品及挥发性有毒样品的常规检验。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T19501微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定GB/T30904无机材料晶相定量分析X射线衍射Rietveld法GB/T36165金属平均晶粒度测定X射线衍射法JJG629X射线衍射仪检定规程ASTME1426X射线衍射法测定残余应力的标准试验方法ICDDPDF-2粉末衍射标准卡片集

3术语和定义

3.1X射线衍射：当X射线照射晶体材料时，由于晶体中原子的周期性排列，散射的X射线在特定方向上产生相干叠加，形成与晶体结构对应的特征衍射花样的物理现象。3.2物相鉴别：通过将实验测得的衍射峰位置、相对强度与标准衍射数据库对比，